工作职责：

1. 负责 DDIC ATE测试程序开发与维护，量产测试方案设计、开发、验证、维护等工作，主导测试技术创新和知识积累工作；
2. 使用 Advantest ND3 / ND4 测试平台进行开发、debug与量产导入；
3. 建立与优化 CP / FT 测试流程，提升测试效率与coverage；
4. 进行量产测试问题分析（yield issue / correlation / debug），与设计（IC Design）、产品工程（PE）、制程（Fab）跨部门合作，进行问题厘清与改善；
5. 负责带领项目成员进行芯片可量产设计、 晶圆级性能验证、 试产导入验证、产能规划与提升和量产测试规范制定；
6. 负责主导芯片量产异常问题的分析和解决工作，规划提良率、降成本、稳生产的策略并推动执行；
7. 负责协助上级对junior员工的指导培养，参与流程建设执行，完成上级安排的其他工作。

任职资格：

1. 电子工程、微电子技术、测控等相关专业本科及以上学历，7-10年ATE测试开发经验（DDIC为主），精通芯片 CP/FT 量产测试，熟悉芯片 DFT 设计；
2. 熟悉 OLED 中小尺寸显示驱动IC测试架构；
3. 具备 ND3 或 ND4 平台开发经验，熟悉测试项目如：Analog / Interface（MIPI）/ Source Driver / Gate Driver；
4. 有 TDDI / AMOLED driver / DDI整合经验，具备问题分析与debug能力；
5. 优秀的分析判断、沟通推动等能力，强烈的主导和目标意识，抗压能力强。